X線イメージング技術革新
2025-10-30 11:30:28

次世代X線イメージングの技術革新を予感させる新型検出器の発表

次世代X線イメージング技術に迫る!



ダイヤトレンド株式会社が、2025年11月1日から8日まで横浜で開催される「IEEE NSS MIC RTSD」に出展し、自社開発の高速シンチレーションフォトンカウンティング検出器についての最新研究成果を発表します。この検出器は東京大学や東北大学との共同研究によって生み出されており、特に注目を集めています。

高速シンチレーションフォトンカウンティング検出器の特長


ダイヤトレンドの開発した高速シンチレーションフォトンカウンティング検出器は、柱状のシンチレータ、SPADベースのSiPMアレイ、そして高速計数回路から構成されています。この装置の大きな特長は、ポーラリゼーションを持たず低チャージシェアリングを実現しているため、高い定量性のデータを得られることが可能で、物質の識別もできることです。

微細構造による低クロストークの実現


当検出器の優れた性能は、C&Aとの共同研究に基づいたGFAGピラー型アレイによって支えられています。このシンチレータは、以下の特性を持っています:
  • - 低光学的クロストーク:ピラー型アレイの構造により隣接ピクセルへの光漏れを大幅に低減し、高画質を実現しています。
  • - 高精度・均一性:マルチワイヤーソー溝切り技術により、正確なピッチ(200μm)が達成され、全体の性能を保証します。

検出器モジュールと実証データ


ダイヤトレンドは、FBKとの協力で開発した250μmピクセルのSiPMを用いて検出器モジュールを製作し、X線透過撮影を実施しました。様々なエネルギー閾値(20keVから50keV)で撮影した煮干しの画像は、この検出器がエネルギー選択的なイメージングを可能にすることを示しています。
この技術は、空港の手荷物検査による危険物の検知や医療用CT検査における新規造影剤の導入、さらにはリチウムイオン電池の不良検知など、多岐にわたる応用が期待されています。

IEEE NSS MIC RTSDでの発表内容


会場では、最新の研究結果に加え、高速シンチレーションフォトンカウンティング検出器の実機展示も行います。
  • - 口頭発表
- 日時:11月7日(金)11:00 - 11:15
- 場所:G2
- タイトル:A fine-pitch GFAG-SiPM based photon counting imager and its performance

  • - ポスター発表
- 日時:11月5日(水)10:00 - 12:00
- 場所:G4 & G6
- タイトル:Inverse Problem-Based Spectral Correction of Escape X-rays in GFAG-SiPM Photon-Counting CT Detectors

  • - 展示ブース
- 開催期間:11月4日(火)12:00〜11月6日(木)16:00
- ブース番号:46(C&Aブース内)

研究パートナーを募集


私たちは、エネルギー情報に基づく物質弁別やエネルギー解像度の向上を目指し、研究者や企業との開発パートナーシップを募集しています。興味のある方は是非、お問い合わせください。

2025 IEEE NSS MIC RTSDとは


このカンファレンスは、放射線検出器と医療・他分野での画像化システムに関する最新技術についての議論を行う世界最大級の学会です。詳細は公式ホームページをご覧ください。
  • - 開催期間:2025年11月1日(土)~2025年11月8日(土)
  • - 開催地:パシフィコ横浜
  • - 公式ホームページIEEE NSS MIC 2025

ダイヤトレンドについて


  • - 社名:ダイヤトレンド株式会社
  • - 本社所在地:大阪府大阪市北区大深町3−1 グランフロント大阪タワーB28F
  • - 設立年:1971年
  • - 事業内容:三菱電機機器販売(特約店)、ネットワークソリューション機器販売
  • - 公式HPダイヤトレンド


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